
少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)用於單晶矽錠、矽磚和矽晶圓片的生產和質量監控。用於HJT、HIT、TOPcon、雙麵PERC、PERC+太陽能電池、鈣鈦礦等中的矽材料。
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